色散系統(tǒng)

　　初級(jí)X射線照射樣品后樣品會(huì)發(fā)出由各組成元素生成的混雜在一起的多色次級(jí)X射線色散系統(tǒng)的任務(wù)就是要將某一待測元素從上述混雜線中分離出來送入探測器檢測。

　　單道掃描型波長色散X熒光光譜儀是采用平行光結(jié)構(gòu)它的分光元件準(zhǔn)直器和平面晶體以及探測器都安裝在測角儀裝置上試樣位置不變測定時(shí)晶體和探測器分別對(duì)來自試樣的次級(jí)射線作θ和2θ的相對(duì)運(yùn)動(dòng)這時(shí)所需檢測的譜線就被分離出來并被檢出。

　　單道掃描型儀器在測定時(shí)是一個(gè)元素測完后再測一個(gè)元素的因此測定周期較長但是它的測定范圍很廣只要配置足夠的晶體和探測器幾乎可測定所有元素。

　　準(zhǔn)直器

　　準(zhǔn)直器分為入射和出射兩種入射準(zhǔn)直器交換器上可放4個(gè)可程控選擇我公司的熒光儀有3個(gè)細(xì)準(zhǔn)直器0.15°,中粗準(zhǔn)直器0.25°,粗準(zhǔn)直器0.6°。輕元素由于熒光產(chǎn)額低選粗準(zhǔn)直器,重元素譜線復(fù)雜選細(xì)準(zhǔn)直器,出射準(zhǔn)器僅一個(gè)裝在探測器上。

　　準(zhǔn)直器又稱索拉狹縫(SollerSlit)是由平行的薄金屬片組成,它的作用是使從樣品來的次級(jí)射線經(jīng)入射準(zhǔn)直器后成為平行光束射入平行晶體,然后經(jīng)分光后再通過出射準(zhǔn)直器準(zhǔn)直后射入探測器檢測。

　　晶體:

　　晶體交換器上可放9塊晶體,可程控選擇,我公司的熒光儀有4塊,分別是AXO6、PET、Lif200、Lif220。晶體是指內(nèi)部結(jié)構(gòu)中的分子、原子和離子都有規(guī)律地在三維空間成周期性排列而組成一定形式的晶格所組成的一種物質(zhì)在外形上晶體表現(xiàn)為一定形狀的幾何多面體組成這種幾何多面體的平面稱晶面。晶體都具有一定的對(duì)稱性而且是一種均一的各向異性體。

　　晶體衍射和穩(wěn)定性

　　具有符合某些條件時(shí)晶面才反射X射線這種選擇性反射稱為衍射。

　　布拉格定律指出如果在晶面間距為d的晶格面上反射波長為λ的X射線那么這個(gè)波與相鄰平面反射的波在路程上相差“2dsinθ‘的距離當(dāng)這段距離的長度是波長的整數(shù)倍時(shí)反射的X射線被加強(qiáng)否則它們互相抵消。

　　布拉格Bragg公式nλ=2dsinθ根據(jù)這一公式就可以通過改變衍射角將多波長X射線中某一特定的波長從其他波長中衍射出來,達(dá)到分光的目的。

　　晶體的穩(wěn)定性由于溫度變化時(shí),晶面會(huì)膨脹或收縮使2d值改變,根據(jù)Bragg公式在θ角不變時(shí)測到的波長發(fā)生變化,數(shù)據(jù)就發(fā)生波動(dòng),PET晶體是對(duì)溫度zui敏感的晶體,為了保證數(shù)據(jù)的穩(wěn)定提高測量精度,必須在恒溫下進(jìn)行。

　　X射線衍射的分析

　　X射線衍射的分析(XRD)系統(tǒng)測量的是經(jīng)衍射后的來自X光管發(fā)射的某一特定波長,這個(gè)特定波長的光是被待測樣品中存在的晶體晶面所衍射,它是用來測定樣品中的化合物而完成樣品分析.　XRD原理:來自X射線管的原級(jí)X射線,經(jīng)一初級(jí)準(zhǔn)直器將X光形成幾乎是平行光柱射入試樣并被衍射,從試樣射出的衍射光進(jìn)一步被一個(gè)二次準(zhǔn)直器準(zhǔn)直,射向一個(gè)適當(dāng)?shù)木w經(jīng)衍射后進(jìn)入出射準(zhǔn)直器再進(jìn)入探測器就檢測出不同結(jié)構(gòu)的物相。